Neurala社の外観検査システム開発用ソリューション「VIA」に説明機能が追加

Neurala, Inc.（以下「Neurala社」）が開発し、ユビキタスAIが国内代理店として販売する、外観検査システム開発用ソリューション「VIA」に、説明機能が加わりました。

Neurala社のVIAは、AIを用いた外観検査システム開発用ソリューションです。高額なハードウェア投資もAI人材も膨大なデータも必要とせずに、従来のマシンビジョンを上回るパフォーマンスで、簡単に外観検査プロセスを自動化します。

このたびVIAに、産業および製造のアプリケーション用に構築されたAI説明技術が追加されました。この新機能は、異常検知の判断材料となったエリアを画像上で特定します。従来はAIの異常検知の判断プロセスがブラックボックスでしたが、この新機能により、異常検知の判断材料となった画像内のオブジェクトを正確に識別したり、具体的に何が異常となっているのかを識別したりすることができます。

産業用IoTシステムは、品質検査プロセスで使用される大量の異常データを常に収集しています。Neurala社の説明機能を取り入れることで、製造業者は、これらのデータセットからより詳細な分析をし、画像のどこが異常であるか、または照明などの他の条件に起因する誤検知であるかといった原因を特定できます。これによって、効率的な品質改善を支援し、歩留まり率向上に貢献します。

Neurala社の説明機能を利用すると、製造業者はAIモデルの仕組みとその意思決定を詳細に理解できるようになるため、より精度の高いAIモデルを構築して、継続的にプロセスを改善できるようになります。

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